EMI電磁干擾是一個令很多設計者頭疼的問題，即便效率達到要求，如果EMI不達標也是算不上一個合格的產品的，在之前的文章中。深圳電源IC供應商將開始講解用哪些工具發(fā)現(xiàn)EMI輻射。

 

     當設計者從EMI的角度看任何一款產品時，整個設計可以被看作是能量源和天線的一個集合。EMI問題的常見（但絕不是唯一）源包括：

 

     1、電源濾波器；

 

     2、地阻抗；

 

     3、沒有足夠的信號返回；

 

     4、LCD輻射；

 

     5、元件寄生參數(shù)；

 

     6、電纜屏蔽不良；

 

     7、開關電源（DC/DC轉換器）；

 

     8、內部耦合問題；

 

     9、金屬外殼中的靜電放電；

 

    10、不連續(xù)的返回路徑；

 

    為了確定一塊特定電路板上的能量源以及位于特定EMI問題中心的天線，需要檢查被觀察信號的周期。信號的射頻頻率是多少？是脈沖式的還是連續(xù)的？這些信號特征可以使用基本的頻譜分析儀進行監(jiān)視。

 

    如果需要查看巧合性。待測設備（DUT）上的哪個信號與EMI事件是同時發(fā)生的？一般常見的做法是用示波器探測DUT上的電氣信號。檢查EMI問題與電氣事件的巧合性無疑是EMI排查中最耗時間的工作。將來自頻譜分析儀和示波器的信息以同步方式關聯(lián)在一起一直是很難做的一件事。

 

    然而，混合域示波器（MDO）的推出使情況有了改觀，它能提供同步的而且與時間相關聯(lián)的觀察和測量功能。這種儀器能夠相當容易地觀察哪個信號與哪個EMI事件同時發(fā)生，從而可以簡化EMI排查過程。

 

    混合域示波器（MDO）將頻譜分析儀、示波器和邏輯分析儀組合在一臺儀表內，可以從全部三臺儀器中產生同步的而且與時間關聯(lián)的測量結果。

 

    MDO將混合信號示波器的功能和頻譜分析儀的功能整合在一起。借助這種組合，能夠自動顯示模擬信號特征、數(shù)字時序、總線事務以及射頻并在這些信息基礎上實現(xiàn)觸發(fā)。一些MDO還能捕獲或觀察頻譜和時域軌跡，包括射頻幅度對時間、射頻相位對時間以及射頻頻率對時間的關系曲線。

 

    顯示了MDO提供的時間關聯(lián)觀察功能，射頻幅度與時間的關系軌跡。

 

    從以上的內容中可以看到，對EMI電磁干擾的排查方法不止一種。隨著技術的發(fā)展，檢測的方法雖然越來越復雜化，但依托于發(fā)展的技術，其并沒有影響到設計者的使用。