MOS管米勒效應(yīng)電容問(wèn)題怎么處理?
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米勒效應(yīng)是三極管工作中常見(jiàn)的一種作用現(xiàn)象,然而,MOS管中由于門(mén)極和漏極間存在米勒電容,則會(huì)影響整體的開(kāi)啟時(shí)間。那么問(wèn)題來(lái)了:遇到這種情況,在柵極和源極間并聯(lián)一個(gè)小電容有沒(méi)有效果?在什么情況下才考慮米勒電容?米勒電容影響的時(shí)間怎么計(jì)算?就讓高級(jí)工程師告訴你,遇到米勒效應(yīng)電容時(shí)你應(yīng)該怎么處理。
據(jù)高級(jí)工程師介紹,米勒電容不是個(gè)實(shí)在存在MOSFET中的電容,它是由MOSFET棚漏極間的電容反映到輸入(即棚源間)的等效電容。由米勒定理可知,這個(gè)等效電容比棚漏間的實(shí)際電容要大許多,隨增益變化,而由該效應(yīng)所形成的等效電容稱(chēng)為米勒電容。由此可見(jiàn),在棚源極間并一個(gè)電容無(wú)助于減小米勒電容,反之更會(huì)降低MOSFET的開(kāi)啟速度,增加開(kāi)通關(guān)斷時(shí)間。
所以,正確的處理方式是在關(guān)斷感性負(fù)載時(shí),如果驅(qū)動(dòng)電路內(nèi)阻不夠小,可以在MOS的GS間并聯(lián)一個(gè)適當(dāng)?shù)碾娙荩皇遣⒙?lián)一個(gè)越小越好的電容。這樣做可以防止關(guān)斷時(shí)因米勒電容影響出現(xiàn)的漏極電壓塌陷。
至于遇到了MOS管米勒效應(yīng)電容后如何計(jì)算的問(wèn)題,工程師們可以查詢(xún)數(shù)據(jù)手冊(cè)中的Cgd,然后根據(jù)具體電路的電壓增益計(jì)算。一般情況下,功率MOS管往往給出一定條件下管子開(kāi)通所需要的電量和充電曲線(xiàn),可以作為驅(qū)動(dòng)設(shè)計(jì)的參考。
總結(jié)
工程師在進(jìn)行測(cè)試的過(guò)程中,一旦遇到米勒效應(yīng)電容問(wèn)題,首先要依據(jù)查詢(xún)數(shù)據(jù)手冊(cè)進(jìn)行計(jì)算,在估算出電容數(shù)值后選取適當(dāng)電容進(jìn)行電路系統(tǒng)修改調(diào)整。除此之外,依據(jù)米勒定理進(jìn)行合理運(yùn)用,也是能夠幫助工程師讀懂波紋并找出問(wèn)題的關(guān)鍵所在。
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