過(guò)零檢測(cè)指的是在交流系統(tǒng)中，當(dāng)波形從正半周向負(fù)半周轉(zhuǎn)換時(shí)，經(jīng)過(guò)零位時(shí)，系統(tǒng)作出的檢測(cè)，過(guò)零信號(hào)一般用NPN三極管來(lái)檢測(cè)，當(dāng)AC電壓過(guò)零時(shí)，三極管基極電壓低于0.7V，三極管截止，從而集電極為高電平，MCU檢測(cè)到上升沿即為過(guò)零信號(hào)，可作開(kāi)關(guān)電路或者頻率檢測(cè)，家電設(shè)備電路過(guò)零檢測(cè)主要是防止可控硅在非零電壓開(kāi)啟時(shí)產(chǎn)生干擾，影響電器運(yùn)行。

　　

　　PN8034芯片集成PFM控制器及650V高雪崩能力智能功率MOSFET，PN8034內(nèi)置高壓?jiǎn)��?dòng)模塊，實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)快速啟動(dòng)、超低待機(jī)功能，同時(shí)該芯片提供了完整的智能化保護(hù)功能，包括過(guò)流保護(hù)，欠壓保護(hù)，過(guò)溫保護(hù)，另外PN8034的降頻調(diào)制技術(shù)有助于改善EMI特性。

　　

　　在小家電應(yīng)用中，很多情況下輸入用半波整流，為了過(guò)Surge，二極管的耐壓往往選取比較大，一般用兩顆二極管1N4007串聯(lián)，串聯(lián)常用如下兩種電路結(jié)構(gòu)，第一種N和GND直接相連，第二種N和GND有二極管隔開(kāi)，兩種結(jié)構(gòu)對(duì)過(guò)零檢測(cè)是否成功有著很大關(guān)系。
 

　　

　　1.N和GND直接相連在BUCK電路中的應(yīng)用
 

　　

　　此電路結(jié)構(gòu)N和過(guò)零檢測(cè)的地GND相連，任何時(shí)候，L對(duì)GND（N）都是AC輸入電壓。對(duì)于過(guò)零檢測(cè)線路，在正半周，三級(jí)管導(dǎo)通，Vzc為低電平；在負(fù)半周，三極管Vbe被鉗位在-0.7V，處于截止?fàn)顟B(tài)，Vzc為高電平。過(guò)零檢測(cè)線路在整個(gè)交流周期內(nèi)都能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)到輸入交流電壓，因此過(guò)零檢測(cè)OK。

　　　　（兩種波形分別為Vac和Vzc）

　　

　　2.N和GND二極管隔開(kāi)在BUCK電路中的應(yīng)用

　　

　　此種情況下，N和GND被D2隔開(kāi)，因?yàn)檩斎腚娊怆娙莸膬?chǔ)能原因，D1 D2不是一直導(dǎo)通。當(dāng)D1,D2導(dǎo)通，即AC對(duì)輸入電解電容充電時(shí)，L對(duì)GND電壓為確定值，在D1,D2截止時(shí)，L 對(duì)GND電壓為不定狀態(tài)，所以三極管的基極檢測(cè)不到準(zhǔn)確的過(guò)零電壓信號(hào)，過(guò)零信號(hào)檢測(cè)FAIL。
 

　　

　　（兩種波形分別為Vac和Vzc）

　　

　　因此，在有過(guò)零檢測(cè)的線路且輸入為半波整流時(shí),需采用N和GND直接相連，避免被二極管隔開(kāi)，這樣過(guò)零檢測(cè)電路才能夠準(zhǔn)確的檢測(cè)到交流電壓，過(guò)零信號(hào)才能夠準(zhǔn)確。

　　

　　當(dāng)整流電路為橋式全波整流時(shí)， N和GND沒(méi)有直接相連，被整流橋二極管隔開(kāi)，只有橋式整流二極管導(dǎo)通時(shí)，L/N對(duì)于GND電壓才是確定狀態(tài)，其他截止期間電壓都為不定狀態(tài)。那么橋式整流如何檢測(cè)過(guò)零信號(hào)呢？

　　

　　一、整流橋和輸入電容之間增加二極管

　　

　　加了二極管D17后，過(guò)零檢測(cè)采樣點(diǎn)被D17和輸入電解電容隔開(kāi)，過(guò)零采樣的電壓對(duì)于GND為饅頭波，可以準(zhǔn)確的檢測(cè)過(guò)零信號(hào)，過(guò)零檢測(cè)OK。

　　

　　二、采用兩顆二極管采樣　　

　　整流橋和輸入電容之間增加二極管雖然可以準(zhǔn)確的檢測(cè)過(guò)零信號(hào)，但是在較大功率電路中，D17的損耗會(huì)較大，會(huì)降低整個(gè)系統(tǒng)的效率。那怎么樣提高效率呢？可以用下面的電路。
 

　　

　　此種電路在輸入的正負(fù)半周，輸入對(duì)GND都不會(huì)出現(xiàn)不定電壓狀態(tài)，可以很好的檢測(cè)過(guò)零信號(hào)，過(guò)零檢測(cè)OK。

　　

　　三、采用光耦采樣

　　

　　此種電路用在需要AC交流輸入和MCU電氣隔離的系統(tǒng)中，用光耦采樣過(guò)零信號(hào)。可以很好的采集過(guò)零信號(hào)，過(guò)零檢測(cè)OK。
 

　　

　　此種電路結(jié)構(gòu)需要注意R4電阻的取值，R4電阻過(guò)大，光耦開(kāi)啟延時(shí)，會(huì)影響過(guò)零采集精度；電阻過(guò)小時(shí)，待機(jī)功耗又會(huì)過(guò)高，所以需要折中考慮取值。待機(jī)要求較高時(shí)，光耦可以選擇高CTR系列，從而增大R4電阻，減小待機(jī)損耗。

　　

　　過(guò)零信號(hào)的元器件的參數(shù)選取直接影響待機(jī)功耗和采樣精度等性能，因此選擇PN8034可以提升系統(tǒng)的可靠性，同時(shí)PN8034良好的特性也將提升整機(jī)系統(tǒng)的穩(wěn)定性，降低整機(jī)失效率，被廣泛用于外圍元器件極精簡(jiǎn)的小功率非隔離開(kāi)關(guān)電源。